Systém pro měření pomocí protokolu XCP

Bc. Martin HÁS

Master's thesis

Design and Application "system for the measurement of the CCP / XCP protocol" for microcontrollers

Anotácia:

Tato diplomová práce se zabývá návrhem a realizací systému s mikrokontrolérem, který komunikuje s nadřazeným systémem pomocí měřícího a kalibračního protokolu XCP, realizovaného po sběrnici CAN. Protokol XCP slouží především k získávání dat a jejich zápisu do systému s mikrokontrolérem. Teoretická část práce se zabývá testováním softwaru a stručně shrnuje základy protokolu XCP. V další části práce jsou uvedeny požadavky zadavatele na realizovaný systém. V praktické části je nejdříve popsán hardware systému, tj. výběr součástek a výsledná deska plošných spojů. Dále je řešeno programové vybavení systému. U toho jsou představeny pomocné vývojové nástroje, dále je uveden vývojový diagram a detailní popis aplikace. Poslední část kapitoly tvoří soupis implementovaných příkazů XCP a objektů na pevně daných adresách v paměti mikrokontroléru.

Abstract:

This diploma thesis deals with the design and the realization of a system with a microcontroller, which communicates with its master system via the measurement and calibration protocol XCP realized over a CAN bus. XCP protocol serves primarily for the purpose of the acquisition of the data and their writing to the microcontroller system. The theoretical part of this thesis deals with the software testing and briefly summarizes the basics of XCP. In the next part there are stated the requirements for the system as requested by its contractor. In the practical part of the thesis the hardware of the system is described first, that is the choice of the components and the resulting printed circuit board. The software of the system is discussed next. Auxiliary development tools are described and then the application flowchart and the detailed application's description are presented. The last part of the chapter consists of the list of all implemented XCP commands and objects located on the fixed addresses in the memory of the microcontroller.

Kľúčové slová

XCP, CCP, kalibrační protokol, měřící systém, STM8

Jazyk práce: Czech

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 24. 5. 2018

Zverejniť od: 31. 12. 2999

Obhajoba závěrečné práce

• Vedúci: Ing. Kamil Kosturik, Ph.D.

University of West Bohemia

Faculty of Electrical Engineering

Master programme / odbor:
Electrical Engineering and Informatics / Electronics and Applied Informatics