Získávání a zpracování dat z rastrovací mikroskopie s velkým rozsahem – Bc. Michal Hečko
Bc. Michal Hečko
Diplomová práce
Získávání a zpracování dat z rastrovací mikroskopie s velkým rozsahem
Acquisition and processing of data from raster microscopy with large scannning range
Abstract:
This diploma thesis concerns with aquiring and processing image data obtained from Atomic Force Microscopy with large scanning range or high resolution. Aim of this work is to develop algorithm for detection of significant points on scanned surface and base on them create appropriate order of data to be scanned.Abstract:
Táto práca sa zaoberá problematikou získavania a spracovania dát meraných pomocou mikroskopie atomárnych síl (AFM) s veľkým rozsahom alebo vysokým rozlíšením. Cieľom práce je navrhúť systém detekcie význačných bodov na snímanom povrchu a na ich základe určiť vhodný postup snímania dát.
Jazyk práce: slovenština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 28. 5. 2012
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/ixqd2/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 25. 6. 2012
- Vedoucí: prof. RNDr. Michal Kozubek, Ph.D., Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.
- Oponent: doc. RNDr. Pavel Matula, Ph.D.
Citační záznam
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Fakulta informatikyMasarykova univerzita
Fakulta informatikyMagisterský studijní program / obor:
Aplikovaná informatika / Zpracování obrazu
Práce na příbuzné téma
-
Studium biomechaniky buněk s použitím AFM nanoindentace
Zuzana Bertová -
Studium rozbalování proteinů s použitím AFM
Barbora Javorská -
Zobrazování fágových částic pomocí AFM mikroskopie
Simona Zahrádková -
Nanoscale imaging with atomic force microscopy (AFM)
Veronika Horáčková -
Biomechanika srdečních buněk, AFM studie
Barbora Veselá -
Studium imunointerakcí pomocí AFM
Patrik Gereg -
Structural and chemical properties of boron and nitrogen dopants in graphene by means of STM/AFM in UHV at 5 K
Benjamin Jose MALLADA FAES -
Výzkum pokročilých mikroskopických a litografických technik AFM
Kamil Vaněk