Napařování ochranných vrstev MgF2 a HfO2 na zrcadlové vrstvy. – Alexandra ŠPERKOVÁ
Alexandra ŠPERKOVÁ
Bakalářská práce
Napařování ochranných vrstev MgF2 a HfO2 na zrcadlové vrstvy.
Deposition of MgF2 and HfO2 protective layers to mirror films.
Anotace:
Tématem bakalářské práce je experimentální ověření nasazení ochranných vrstev HfO2 a MgF2 na zrcadlově odrazné prvky v ultrafialové oblasti světelného spektra, přednostně v oblasti od 175 nm do 250 nm. Toto studium je úzce spojeno s vývojem detektoru RICH (z ang. Ring-Imaging Cherenkov) v rámci kolaborace CBM pro experimenty v oblasti částicové fyziky.Abstract:
This bachelor thesis deals with an experimental verification of the application of HfO2 and MgF2 to specular reflective elements in the ultraviolet region of the light spectra, in the interval from 175 nm to 250 nm in particular. This study is closely linked with the development of the RICH detector (Ring-Imaging Cherenkov) in frame of the CBM collaboration in field of particle physics.
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 20. 5. 2019
Obhajoba závěrečné práce
- Vedoucí: Mgr. Libor Nožka, Ph.D.
Citační záznam
Jak správně citovat práci
ŠPERKOVÁ, Alexandra. Napařování ochranných vrstev MgF2 a HfO2 na zrcadlové vrstvy.. Olomouc, 2019. bakalářská práce (Bc.). UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI. Přírodovědecká fakulta
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI, Přírodovědecká fakultaUNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI
Přírodovědecká fakultaBakalářský studijní program / obor:
Fyzika / Digitální a přístrojová optika
Práce na příbuzné téma
-
Využití atomové absorpční spektrometrie pro hodnocení biologicky aktivních tenkých vrstev
Michaela ČERNÁ -
Studium produktů nízkoteplotního plazmatu pomocí hmotnostní spektrometrie a jejich vztah k chemii tenkých vrstev
Blahoslav Maršálek -
Analýza velmi tenkých vrstev na povrchu materiálů metodou rentgenové fluorescenční spektrometrie
Adam Pukowiec -
Analýza vzorků ve formě tenké vrstvy pomocí LIBS spektrometrie
Magdalena Zvolská -
Příprava a charakterizace nanolaminátních tenkých vrstev
Michael Kroker -
Prvková analýza práškových vzorků ve formě tenké vrstvy pomocí LIBS spektrometrie
Tomáš Kratochvíl -
Hmotnostní spektrometrie chalkogenidů
Lukáš Pečinka -
Posouzení biokompatibility tenkých vrstev nanesených metodou PVD napařování elektrickým obloukem a jejich funkcionalizace
Adéla Coufalová
Název
Vložil
Vloženo
Práva