Image filtering in scanning electron microscopes – Bc. Michal Floch
Bc. Michal Floch
Bakalářská práce
Image filtering in scanning electron microscopes
Image filtering in scanning electron microscopes
Anotace:
Skenovací elektrónový mikroskop je zariadenie, schopné zachytiť niekoľkonásobne detailnejšie snímky ako optický mikroskop, zachytávaním informácií o topografii a zložení vzorku pomocou elektrónov. Cieľom tejto práce je zoznámiť sa so simulátorom poskytnutým firmou TESCAN, ktorý funguje na báze Everhar-Thornley detektoru a upraviť ho tak, aby bol schopný generovať časovú sekvenciu snímok. Následne sú …víceAbstract:
A scanning electron microscope is a device with the ability to capture much more detailed images than an optical microscope, collecting information about the topography and composition of the sample using electrons emitted from it. The aim of this thesis is to understand and modify the simulator provided by TESCAN, based on the Everhart-Thornley detector, so it can generate images sequentially in time …více
Jazyk práce: angličtina
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 25. 5. 2021
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/hdejx/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 28. 6. 2021
- Vedoucí: doc. RNDr. Pavel Matula, Ph.D.
- Oponent: doc. RNDr. David Svoboda, Ph.D.
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Fakulta informatikyMasarykova univerzita
Fakulta informatikyBakalářský studijní program / obor:
Informatika / Informatika