Simulace elektrostatického pole elektronového zdroje elektronového mikroskopu

Zdeněk Rech

Diplomová práce

Simulation of Electrostatic Field Types Electron Source of the Electron Microscopes

Anotace:

Elektronová mikroskopie se poslední dobou stala nedílnou složkou v mnoha vědních oborech, ve kterých napomáhá k nejrůznějším novým objevům. Samostatná mikroskopie je neustále vyvíjena a meze, jež se dříve jevily, jako nedosažitelné jsou neustále překonávány. Předmětem této diplomové práce je simulace elektrostatického pole elektronového zdroje elektronového mikroskopu. Elektronový zdroj, jehož elektrostatické pole bude simulováno pochází z elektronového mikroskopu provozovanému v laboratoři elektronové mikroskopie na Vysoké škole báňské – Technické univerzitě Ostrava. Konkrétně se jedná o model SEM Philips 515. Práce rovněž pojednává o rozvoji elektronové mikroskopie a podrobněji rozebírá druhy elektronových zdrojů, které mohou být v moderní elektronové mikroskopii užívány. V praktické části práce je simulováno elektrostatické pole a rozložení potenciálu modelu získaného změřením vyňatého Wehneltova válce z elektronového mikroskopu Philips 515.

Abstract:

Electron microscopy has lately become an integral part in many scientific fields, which helps to a variety of new discoveries. Individual microscopy is constantly being developed and the limits that had previously seemed as unattainable, are being overcome. The subject of this thesis is the simulation of the electrostatic field of the electron source of the electron microscope. The electron source, whose electrostatic field will be simulated, comes from the simulated electron microscope operated in the electron microscopy lab at the VŠB - TUO. Specifically, the scanning elektron microscope model Philips 515. The work also discusses the development of electron microscopy and it analyzes the types of electron resources that can be used by modern electron microscopy. In the practical part, an electrostatic field and potential distribution of a model,which was obtained by measuring of exempted Wehnelt roller from the electron microscope Philips 515, are simulated.

Klíčová slova

Transmisní elektronový mikroskop, skenovací elektronový mikroskop, preparát, elektron, elektrostatické pole, magnetostatické pole, ANSYS, Auto CAD.

Keywords

Transmission electron microscope, scanning electron microscope, preparation, electron, electrostatic field, magnetostatic field ANSYS, Auto CAD.

Jazyk práce: čeština

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 4. 5. 2012

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 1. 6. 2012
• Vedoucí: Martin Marek
• Oponent: Vladimír Kolařík

VŠB - Technická univerzita Ostrava

Fakulta elektrotechniky a informatiky

Magisterský studijní program / obor:
Elektrotechnika / Elektroenergetika