Studium strukturních vlastností supermřížek pomocí rtg reflexe

Mgr. Jakub Rozbořil

Bachelor's thesis

Investigation of structural properties of superlattices using x-ray diffraction

Anotácia:

Předložená práce se zabývá studiem kompletní struktury, tj. stanovením tlouštěk, počtu vrstev a drsností rozhraní ve vzorcích multivrstev, pomocí rentgenové reflexe. Metoda spočívá v analýze rtg reflexní křivky a jejím srovnání se simulacemi. Zkoumány byly dva polovodičové vzorky, u kterých byla experimentálně stanovená struktura srovnána s nominální strukturou, a dva vzorky rtg zrcadel, jejichž strukturní analýza byla provedena pomocí dvou rtg aparatur. Na jedné aparatuře byla provedena měření ve větším rozsahu úhlu dopadu a na druhé aparatuře ve vyšším rozlišení. Výsledky měření z jednotlivých aparatur pak byly srovnány a diskutovány.

Abstract:

This thesis deals with a study of complete structure, i.e. determination of thicknesses, number of layers and roughnesses of interfaces in multilayer samples, using X-ray reflectivity. The method is based on analysis of an x-ray reflection curve and its comparison with simulations. Two semiconductor samples were studied, where the experimentally determined structure was compared with nominal structure and two samples of x-ray mirrors were studied, where the structural analysis was performed using two x-ray apparatuses. The measurements on the first apparatus were performed in a larger range of incidence angle and the measurements on the second apparatus were performed in using higher resolution. The measured results from both apparatuses were compared and discussed.

Kľúčové slová

Rentgenové záření, Reflektivita, Supermřížka, X-ray, Reflectivity, Superlattice

Jazyk práce: Czech

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 21. 5. 2012

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 22. 6. 2012
• Vedúci: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.

Masaryk University

Faculty of Science

Bachelor programme / odbor:
Physics / Physics