Zpět na vyhledávání

Mgr. Patrick Gono

Bachelor's thesis

Studium vybraných struktur pomocí mikroskopie atomárních sil

Study of selected structures using atomic force microscopy
Abstract:
In this bachelor thesis we study quantum dots using atomic force microscopy (AFM). We take a closer look on the principles, function and common artifacts of this experimental method. Using AFM we inspect the effect of growth parameters, e.g. thickness and composition of GaAsSb layers, on the size and shape of InAs quantum dots. We compare the base area and elongation of quantum dots on ten samples …viac
Abstract:
V tejto bakalárskej práci sa venujeme mikroskopii atómových síl (AFM). Zameriavame sa na princípy, funkciu a bežné chyby tejto experimentálnej metódy. Pomocou AFM zisťujeme vplyv výrobných parametrov, akými sú hrúbka a zloženie krycej vrstvy GaAsSb, na veľkosť a tvar kvantových bodiek InAs. Porovnávame obsah základne a predĺženie kvantových bodiek na desiatich vzorkách pripravených metódou MOVPE. Študujeme …viac
 

Kľúčové slová

AFM mikroskopia atómových síl artefakt bezkontaktný režim kontaktný režim poklepový režim kvantové bodky krycia vrstva InAs GaAsSb atomic force microscopy artifact non-contact mode contact mode tapping mode quantum dots strain reducing layer
 
Jazyk práce: Slovak
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 23. 5. 2014
Identifikátor: https://is.muni.cz/th/cmsxi/

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 23. 6. 2014
  • Vedúci: Mgr. Petr Klenovský, Ph.D.

Citační záznam

Citovat tuto práci

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta
Složka Odkaz na adresář do lokálního úložiště instituce

Masaryk University

Faculty of Science

Bachelor programme / odbor:
Physics / Physics

Práce na příbuzné téma

Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.