Mgr. Veronika Horáčková, Ph.D.

Doctoral thesis

Nanoscale imaging with atomic force microscopy (AFM)

Nanoscale imaging with atomic force microscopy (AFM)
Abstract:
V mnoha oblastech vědy a technologií je velkým trendem dostat se u zkoumaného či vyvíjeného materiálu až k nanometrickému rozlišení, případně až na velikost atomů. Využívání mikroskopie atomárních sil (AFM) pro studium různých druhů vzorků v přírodovědných a technických aplikacích tedy stále rapidně roste. AFM není pouhým nástrojem pro měření topografie povrchu, ale učinila významné příspěvky v různých …more
Abstract:
In many areas of science and technology a great trend is to achieve for the investigated or developed material the nanometric resolution, possibly up to the size of atoms. The use of atomic force microscopy (AFM) to study different types of materials in science and engineering applications is therefore rapidly growing. AFM is not merely an instrument for measuring surface topography, but it has made …more
 
 
Language used: English
Date on which the thesis was submitted / produced: 6. 6. 2017

Thesis defence

  • Date of defence: 3. 11. 2017
  • Supervisor: doc. RNDr. Petr Skládal, CSc.
  • Reader: Mgr. Zdenka Fohlerová, Ph.D., prof. RNDr. Tibor Hianik, DrSc.

Citation record

Full text of thesis

Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:
  • světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta