Mgr. Veronika Horáčková, Ph.D.

Disertační práce

Nanoscale imaging with atomic force microscopy (AFM)

Nanoscale imaging with atomic force microscopy (AFM)
Anotace:
V mnoha oblastech vědy a technologií je velkým trendem dostat se u zkoumaného či vyvíjeného materiálu až k nanometrickému rozlišení, případně až na velikost atomů. Využívání mikroskopie atomárních sil (AFM) pro studium různých druhů vzorků v přírodovědných a technických aplikacích tedy stále rapidně roste. AFM není pouhým nástrojem pro měření topografie povrchu, ale učinila významné příspěvky v různých …více
Abstract:
In many areas of science and technology a great trend is to achieve for the investigated or developed material the nanometric resolution, possibly up to the size of atoms. The use of atomic force microscopy (AFM) to study different types of materials in science and engineering applications is therefore rapidly growing. AFM is not merely an instrument for measuring surface topography, but it has made …více
 
 
Jazyk práce: angličtina
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 6. 6. 2017

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 3. 11. 2017
  • Vedoucí: doc. RNDr. Petr Skládal, CSc.
  • Oponent: Mgr. Zdenka Fohlerová, Ph.D., prof. RNDr. Tibor Hianik, DrSc.

Citační záznam

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta