Bc. Július Vida

Bachelor's thesis

Využití atomic layer deposition pro přípravu TiSiO2 vrstev

Atomic layer deposition for preparation of TiSiO2 thin films
Anotácia:
V této bakalářské práci byly metodou depozice po atomárních vrstvách (atomic layer deposition) připraveny tenké vrstvy oxidu TiSiO2, s různým poměrem titanu a křemíku. Tloušťka a optické vlastnosti vrstev byly určeny pomocí elipsometrie ve viditelné a blízké ultrafialové oblasti spektra. Budoucím záměrem výzkumu nových materiálů tohoto typu je zjištování jejich dielektrických vlastností z hlediska …viac
Abstract:
In this thesis, thin films of TiSiO2 oxides with different titanium-to-silicon ratio were deposited using atomic layer deposition. The thickness and optical properties of the films were determined by ellipsometry in the visible and near ultraviolet spectral range. Future research of novel TiSiO2 materials aims to investigate their dielectric properties because of their possible application as high …viac
 
 
Jazyk práce: English
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 18. 5. 2017

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 21. 6. 2017
  • Vedúci: doc. Mgr. Lenka Zajíčková, Ph.D.

Citační záznam

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta

Masaryk University

Faculty of Science

Bachelor programme / odbor:
Applied Physics / Nanotechnology - Applied Physics

Práce na příbuzné téma

  • Žádné práce na příbuzné téma.