Studium defektů v křemíku pomocí Laueho rtg. difrakce – Bc. Silvie Bernatová, Ph.D.
Bc. Silvie Bernatová, Ph.D.
Master's thesis
Studium defektů v křemíku pomocí Laueho rtg. difrakce
Study of defects in silicon using Laue x-ray diffraction
Abstract:
Rentgenová difrakce v uspořádání na průchod je zřídka užívaná metoda pro charakterizaci defektů v monokrystalech, ačkoliv umožňuje přímé určení velikostí i absolutní koncentrace defektů. Předmětem práce je měření intenzity prošlého a difraktovaného svazku v difrakci na průchod a určování velikostí a koncentrace kyslíkových precipitátů v křemíku. V předkládané práci je na základě dynamické teorie difrakce …moreAbstract:
The dynamical x-ray diffraction in Laue geometry is rarely used method for the defect characterization in the monocrystal, though this method makes it possible to determine precipitate shapes, sizes and the absolute concentration. The aim of this thesis is the intensity measurement of the diffraction curve and the transmission curve and the determination of oxide precipitates concentration in silicon …more
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 13. 5. 2010
Identifier:
https://is.muni.cz/th/lzwmc/
Thesis defence
- Date of defence: 9. 6. 2010
- Supervisor: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Citation record
Full text of thesis
Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:- světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasaryk University
Faculty of ScienceMaster programme / field:
Physics / Condensed Matter Physics