Studium defektů v křemíku pomocí Laueho rtg. difrakce – Bc. Silvie Bernatová, Ph.D.
Bc. Silvie Bernatová, Ph.D.
Diplomová práce
Studium defektů v křemíku pomocí Laueho rtg. difrakce
Study of defects in silicon using Laue x-ray diffraction
Anotace:
Rentgenová difrakce v uspořádání na průchod je zřídka užívaná metoda pro charakterizaci defektů v monokrystalech, ačkoliv umožňuje přímé určení velikostí i absolutní koncentrace defektů. Předmětem práce je měření intenzity prošlého a difraktovaného svazku v difrakci na průchod a určování velikostí a koncentrace kyslíkových precipitátů v křemíku. V předkládané práci je na základě dynamické teorie difrakce …víceAbstract:
The dynamical x-ray diffraction in Laue geometry is rarely used method for the defect characterization in the monocrystal, though this method makes it possible to determine precipitate shapes, sizes and the absolute concentration. The aim of this thesis is the intensity measurement of the diffraction curve and the transmission curve and the determination of oxide precipitates concentration in silicon …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 13. 5. 2010
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/lzwmc/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 9. 6. 2010
- Vedoucí: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasarykova univerzita
Přírodovědecká fakultaMagisterský studijní program / obor:
Fyzika / Fyzika kondenzovaných látek