Zobrazení lokální hustoty stavů pomocí odrazu velmi pomalých elektronů

Mgr. Zuzana Pokorná, Ph.D.

Disertační práce

Imaging the local density of electronic states by very low energy electron reflectivity

Anotace:

Tato práce se zabývá vztahem mezi odrazivostí velmi pomalých elektronů od krystalického vzorku a hustotou elektronových stavů nad vakuovou hladinou pro tento vzorek. Na příkladech monokrystalických vzorků bylo ukázáno, že tento vztah je mnohem volnější než prostá nepřímá úměra, jak vyplývá z teoretických výpočtů. Jsou diskutovány jevy, ovlivňující informaci obsaženou v signálu, především čistota povrchu vzorku. Jelikož různé krystalografické orientace téhož materiálu vykazují různou hustotu stavů, je užitečnost odrazivosti velmi pomalých elektronů demonstrována na určení krystalografické orientace.

Abstract:

This work is concerned with the relationship between the reflectivity of very low energy electrons from a crystalline sample and its density of electron states above the vacuum level. Using single crystal samples, it was possible to show that there is indeed a relationship, although not one of a simple indirect proportionality as theory would predict. Various phenomena influencing the signal information are discussed, including most importantly surface cleanliness. As different crystallographic orientations of the same material exhibit different density of states, the usefulness of electron reflectivity at very low energies is demonstrated for the determination of crystallographic orientation.

Keywords

hustota stavů, hliník, rastrovací nízkoenergiová elektronová mikroskopie density of states, aluminium, scanning low energy electron microscopy

Jazyk práce: angličtina

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 23. 12. 2011

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 30. 4. 2012
• Vedoucí: RNDr. Luděk Frank, DrSc.
• Oponent: prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc., Prof. Ernst Bauer

Masarykova univerzita

Přírodovědecká fakulta

Doktorský studijní program / obor:
Fyzika (čtyřleté) / Vlnová a částicová optika