Analýza morfologie horních rozhraní tenkých vrstev GaN pomocí mikroskopie atomové síly – Mgr. Martin Hasoň
Mgr. Martin Hasoň
Bakalářská práce
Analýza morfologie horních rozhraní tenkých vrstev GaN pomocí mikroskopie atomové síly
Anotace:
Tato práce se zabývá studiem morfologie horních rozhraní GaN vrstev pomocí AFM mikroskopie. K popisu této morfologie je použito v praxi významných statistických veličin, které charakterizují náhodně drsné povrchy. Určení těchto veličin bylo provedeno různými statistickými metodami, a také vyhodnocením z profilů vzorků. Získané údaje byly mezi sebou porovnány. Ukazuje se, že obě metody dávají stejné …víceAbstract:
This work describes morphology of GaN thin films upper boundaries by the AFM. To description the morphology are used statistics which characterizing randomly rough surfaces. Determination of these statistics is performed in various methods. Evaluation of the statistics is performed from the data profile too. These values are mutually compared. It is shown that the both methods are providing the same …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 26. 5. 2006
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/iml8z/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 29. 6. 2006
- Vedoucí: prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.
Citační záznam
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasarykova univerzita
Přírodovědecká fakultaBakalářský studijní program / obor:
Fyzika / Fyzika