Studium polovodičových vrstev s kvantovými tečkami pomocí rtg metod – Mgr. Milan Heczko
Mgr. Milan Heczko
Bachelor's thesis
Studium polovodičových vrstev s kvantovými tečkami pomocí rtg metod
Study of semiconductor layers containing quantum dots using x-ray techniques
Abstract:
Tato práce se zabývá studiem polovodičových vrstev a polovodičových vrstev s kvantovými tečkami pomocí RTG reflektometrie a RTG difraktometrie. Zaměřuje se zejména na vyšetřování tloušťek polovodičových monovrstev a multivrstev, zjišťování mřížkových parametrů materiálů vrstev a také na určování složení ternárních sloučenin. Zkoumány jsou zejména sloučeniny InxGa1-xAs a GaAs1-xSbx na GaAs substrátech …moreAbstract:
This thesis studies semiconductor layers and semiconductor layers with quantum dots by x-ray reflectometry and x-ray difractometry. It focuses in particular on the investigation of thicknesses of semiconductor monolayers and multilayers, the lattice parameters of the survey materials of layers and determining the composition of ternary compounds. Investigated compounds are particulary InxGa1-xAs and …more
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 20. 5. 2011
Identifier:
https://is.muni.cz/th/g38ry/
Thesis defence
- Date of defence: 27. 6. 2011
- Supervisor: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Citation record
Full text of thesis
Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:- světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasaryk University
Faculty of ScienceBachelor programme / field:
Physics / Physics
Theses on a related topic
-
Studium epitaxních vrstev pomocí rtg metod
Michal Bednář