Mgr. Milan Heczko

Bachelor's thesis

Studium polovodičových vrstev s kvantovými tečkami pomocí rtg metod

Study of semiconductor layers containing quantum dots using x-ray techniques
Anotácia:
Tato práce se zabývá studiem polovodičových vrstev a polovodičových vrstev s kvantovými tečkami pomocí RTG reflektometrie a RTG difraktometrie. Zaměřuje se zejména na vyšetřování tloušťek polovodičových monovrstev a multivrstev, zjišťování mřížkových parametrů materiálů vrstev a také na určování složení ternárních sloučenin. Zkoumány jsou zejména sloučeniny InxGa1-xAs a GaAs1-xSbx na GaAs substrátech …viac
Abstract:
This thesis studies semiconductor layers and semiconductor layers with quantum dots by x-ray reflectometry and x-ray difractometry. It focuses in particular on the investigation of thicknesses of semiconductor monolayers and multilayers, the lattice parameters of the survey materials of layers and determining the composition of ternary compounds. Investigated compounds are particulary InxGa1-xAs and …viac
 
 
Jazyk práce: Czech
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 20. 5. 2011

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 27. 6. 2011
  • Vedúci: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.

Citační záznam

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta

Masaryk University

Faculty of Science

Bachelor programme / odbor:
Physics / Physics

Práce na příbuzné téma