Zpět na vyhledávání

Bc. Štěpán Beneš

Master's thesis

Detekce defektů elektronově-optických clonek pomocí neuronových sítí

Defect detection in electron-optical aperture using neural networks
Abstract:
Cílem této teze bylo prozkoumat široké spektrum technik pro detekci anomálií, postavených na neuronových sítích, a prověřit jejich potenciál posloužit jakožto automatizované detektory defektů v reálném výrobním procesu. Za tímto účelem byl společností TESCAN poskytnut data set snímků převážně bezvadných elektronově-optických clonek. Teze poskytuje důkladný přehled architektur neuronových sítí, jež …more
Abstract:
The goal of this thesis was to explore a variety of neural network-based anomaly detection techniques and gauge their potential to be used as automatic defect detectors in a real-world manufacturing process. To this end a small data set consisting of images of predominantly non-defective electron-optical apertures was provided by TESCAN. The thesis provides a thorough overview of neural network architectures …more
 

Keywords

Anomaly detection Manufacturing defect detection Machine learning Neural networks Computer vision Image analysis Automation
 
Language used: English
Date on which the thesis was submitted / produced: 7. 1. 2021
Identifier: https://is.muni.cz/th/mtdkb/

Thesis defence

  • Date of defence: 9. 2. 2021
  • Supervisor: doc. RNDr. Pavel Matula, Ph.D.
  • Reader: doc. RNDr. David Svoboda, Ph.D.

Citation record

Cite this text

Full text of thesis

Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:
  • světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Fakulta informatiky
Složka Reference to the local database directory of the institution