Tomáš HORÁK
Bachelor's thesis
Optická elipsometrie
Optical Ellipsometry
Abstract:
Tato práce se věnuje určení tloušťky tenké vrstvy metodou nulové elipsometrie na elipsometru LEOI-44. Za pomocí dvou sad úhlů nastavení polarizátoru a analyzátoru jsme schopni touto metodou zjistit výslednou tloušťku tenké vrstvy na substrátu.Abstract:
Calculation of thin film thickness on the base of null ellipsometry method with LEOI-44 Ellipsometer is carried out in this thesis. Two sets of angular setting of polarizer and analyzer allow to find refractive index and thickness values in the model of single homogenous layer.
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 17. 5. 2016
Accessible from:: 17. 5. 2016
Thesis defence
- Supervisor: RNDr. Ing. Jan Podloucký
Citation record
The right form of listing the thesis as a source quoted
HORÁK, Tomáš. Optická elipsometrie. Olomouc, 2016. bakalářská práce (Bc.). UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI. Přírodovědecká fakulta
Full text of thesis
Accessibility: Autor si přeje zpřístupnit práci veřejnosti od 17.5.2016
Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:- Soubory jsou od 17. 5. 2016 dostupné: světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI, Přírodovědecká fakultaPALACKÝ UNIVERSITY OLOMOUC
Faculty of ScienceBachelor programme / field:
Physics / Digital and Instrument Optics
Theses on a related topic
- No theses on a related topic available.
Name
Posted by
Uploaded/Created
Rights