Bc. Jana Sitárová

Bachelor's thesis

Automatické ostření v rastrovacím elektronovém mikroskopu

Automatic focusing in scanning electron microscope
Abstract:
This work examines behaviour of existing sharpening functions and their aplicability in various sharpening strategies of the Scanning Electron Microscopy (SEM). The goal is to evaluate and time-shift these functions on the various sub-selections of the images obtained from SEM with respect to the detectability of the optimal plane.
Abstract:
Táto práca skúma správanie 16 existujúcich ostriacich funkcií a ich použiteľnosť pri rôznych stratégiach ostrenia v skenovacej elektrónovej mikroskopii (SEM). Cieľom je vyhodnotiť a časovo vyjadriť dané funkcie na rôznych podvýberoch obrazov získaných zo SEM s ohľadom na detekovatelnosť optimálnej roviny.
 

Keywords

SEM automatické ostrenie ostriace funkcie stratégia ostrenia
 
Language used: Slovak
Date on which the thesis was submitted / produced: 18. 12. 2017
Identifier: https://is.muni.cz/th/mtyr8/

Thesis defence

  • Date of defence: 15. 2. 2018
  • Supervisor: doc. RNDr. Pavel Matula, Ph.D.
  • Reader: prof. RNDr. Michal Kozubek, Ph.D.

Citation record

Cite this text

Full text of thesis

Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:
  • světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Fakulta informatiky
Složka Reference to the local database directory of the institution