Zpět na vyhledávání

Bc. Jana Sitárová

Bakalářská práce

Automatické ostření v rastrovacím elektronovém mikroskopu

Automatic focusing in scanning electron microscope
Abstract:
This work examines behaviour of existing sharpening functions and their aplicability in various sharpening strategies of the Scanning Electron Microscopy (SEM). The goal is to evaluate and time-shift these functions on the various sub-selections of the images obtained from SEM with respect to the detectability of the optimal plane.
Abstract:
Táto práca skúma správanie 16 existujúcich ostriacich funkcií a ich použiteľnosť pri rôznych stratégiach ostrenia v skenovacej elektrónovej mikroskopii (SEM). Cieľom je vyhodnotiť a časovo vyjadriť dané funkcie na rôznych podvýberoch obrazov získaných zo SEM s ohľadom na detekovatelnosť optimálnej roviny.
 

Klíčová slova

SEM automatické ostrenie ostriace funkcie stratégia ostrenia
 
Jazyk práce: slovenština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 18. 12. 2017
Identifikátor: https://is.muni.cz/th/mtyr8/

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 15. 2. 2018
  • Vedoucí: doc. RNDr. Pavel Matula, Ph.D.
  • Oponent: prof. RNDr. Michal Kozubek, Ph.D.

Citační záznam

Citovat tuto práci

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Fakulta informatiky
Složka Odkaz na adresář do lokálního úložiště instituce