Možnosti Ramanovy spektroskopie při analýze padělků elektronických součástek

Bc. Karel JELÍNEK

Master's thesis

The Possibilities Raman Spectroscopy for Counterfeit Component Analysis

Anotácia:

Tato diplomová práce je zaměřena na objasnění pravosti elektronických součástek, zda pouţité materiály, z nichţ se pouzdra součástek skládají, obsahují stejné látkové sloţení jako originální ověřené součástky. Objasnění materiálového zastoupení je zkoumáno pomocí analytické metody Ramanovy spektroskopie. Teoretická část práce je zaměřena na výskyt nepůvodních součástek, dále jsou také uvedeny specifické znaky objevující se u nepůvodních součástek, ale rovněţ jsou představeny další metody přispívající k odhalení potenciálních padělků. V praktické části jsou popsána naměřená Ramanova spektra vybraných vzorků. Na průběh experimentálního měření navazuje také kapitola Vyhodnocení a diskuze hodnotící průběh měření.

Abstract:

This dissertation is focussing on clarification of authenticity of electronic components, especially on material composition. The aim was to sort out if the material composition of casing of non-original parts is identical with original ones. This was examined using Raman spectroscopy method. Theoretical part of dissertation is examining occurrence of non-original complements. New methods used in detecting counterfeits are also introduced. Measured Raman spectroscopy of selected samples is described in practical part. Development of experimental measurement is mentioned in the chapter evaluation and discussion which is appraising progress of measurement.

Kľúčové slová

Ramanova spektroskopie, padělek elektronické součástky, nepůvodní součástka.

Jazyk práce: Czech

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 14. 5. 2012

Zverejniť od: 14. 5. 2012

Obhajoba závěrečné práce

• Vedúci: Ing. Petr Neumann, Ph.D.

Tomas Bata University in Zlín

Faculty of Applied Informatics

Master programme / odbor:
Engineering Informatics / Security Technologies, Systems and Management