Strukturní vlastnosti topologických izolantů – Bc. Milan Heczko
Bc. Milan Heczko
Master's thesis
Strukturní vlastnosti topologických izolantů
Structural properties of topological insulators
Abstract:
V této diplomové práci se zabýváme studiem krystalické struktury epitaxních vrstev topologických izolantů pomocí rentgenové difrakce. Zaměřujeme se zejména na materiály Bi2Te3, BiTe, Bi2Se3, ternární sloučeniny Bi2(Se,Te)3 s různou koncentrací Se/Te a Bi2Te3 s příměsí Mn. Několika různými technikami měření rentgenové difrakce je prováděna fázová analýza vrstev, jsou určovány mřížové parametry a koncentrace …moreAbstract:
In this thesis we study structural properties of epitaxial layers of the topological insulators by high-resolution x-ray diffraction. We mainly focus on Bi2Te3, BiTe, Bi2Se3, ternary compounds Bi2(Se,Te)3 with different concentration of Se/Te and Bi2Te3 with addition of Mn. Layers were grown by molecular beam epitaxy on BaF2 (111) substrates. By using several different x-ray diffraction techniques …moreKeywords
strukturní vlastnosti topologické izolanty rentgenová difrakce mapy reciprokého prostoru bismut chalkogenidy bismut tellurid bismut selenid epitaxní vrstvy roviny dvojčatění Structural properties Topological insulators X-ray diffraction Reciprocal space mapping bismuth chalcogenides bismuth telluride bismuth selenide epitaxial layers twinned planes
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 16. 5. 2013
Identifier:
https://is.muni.cz/th/k5mdc/
Thesis defence
- Date of defence: 18. 6. 2013
- Supervisor: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Full text of thesis
Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:- světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta
Masaryk University
Faculty of ScienceMaster programme / field:
Physics / Condensed Matter Physics