Strukturní vlastnosti topologických izolantů – Bc. Milan Heczko
Bc. Milan Heczko
Master's thesis
Strukturní vlastnosti topologických izolantů
Structural properties of topological insulators
Anotácia:
V této diplomové práci se zabýváme studiem krystalické struktury epitaxních vrstev topologických izolantů pomocí rentgenové difrakce. Zaměřujeme se zejména na materiály Bi2Te3, BiTe, Bi2Se3, ternární sloučeniny Bi2(Se,Te)3 s různou koncentrací Se/Te a Bi2Te3 s příměsí Mn. Několika různými technikami měření rentgenové difrakce je prováděna fázová analýza vrstev, jsou určovány mřížové parametry a koncentrace …viacAbstract:
In this thesis we study structural properties of epitaxial layers of the topological insulators by high-resolution x-ray diffraction. We mainly focus on Bi2Te3, BiTe, Bi2Se3, ternary compounds Bi2(Se,Te)3 with different concentration of Se/Te and Bi2Te3 with addition of Mn. Layers were grown by molecular beam epitaxy on BaF2 (111) substrates. By using several different x-ray diffraction techniques …viacKľúčové slová
strukturní vlastnosti topologické izolanty rentgenová difrakce mapy reciprokého prostoru bismut chalkogenidy bismut tellurid bismut selenid epitaxní vrstvy roviny dvojčatění Structural properties Topological insulators X-ray diffraction Reciprocal space mapping bismuth chalcogenides bismuth telluride bismuth selenide epitaxial layers twinned planes
Jazyk práce: Czech
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 16. 5. 2013
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/k5mdc/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 18. 6. 2013
- Vedúci: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasaryk University
Faculty of ScienceMaster programme / odbor:
Physics / Condensed Matter Physics