Bc. Milan Heczko

Diplomová práce

Strukturní vlastnosti topologických izolantů

Structural properties of topological insulators
Anotace:
V této diplomové práci se zabýváme studiem krystalické struktury epitaxních vrstev topologických izolantů pomocí rentgenové difrakce. Zaměřujeme se zejména na materiály Bi2Te3, BiTe, Bi2Se3, ternární sloučeniny Bi2(Se,Te)3 s různou koncentrací Se/Te a Bi2Te3 s příměsí Mn. Několika různými technikami měření rentgenové difrakce je prováděna fázová analýza vrstev, jsou určovány mřížové parametry a koncentrace …více
Abstract:
In this thesis we study structural properties of epitaxial layers of the topological insulators by high-resolution x-ray diffraction. We mainly focus on Bi2Te3, BiTe, Bi2Se3, ternary compounds Bi2(Se,Te)3 with different concentration of Se/Te and Bi2Te3 with addition of Mn. Layers were grown by molecular beam epitaxy on BaF2 (111) substrates. By using several different x-ray diffraction techniques …více
 
 
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 16. 5. 2013

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 18. 6. 2013
  • Vedoucí: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.

Citační záznam

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta

Masarykova univerzita

Přírodovědecká fakulta

Magisterský studijní program / obor:
Fyzika / Fyzika kondenzovaných látek