Krystalinita křemene jako potenciální indikátor provenience silicitových artefaktů

Bc. Petrana Bochňová

Bachelor's thesis

Quartz crystallinity as a potential tool of chert artefacts provenance studies

Abstract:

Recrystallisation most often caused by increasing age of chert, tectonic activity and pressure causes an increase in the crystallinity of quartz. It is possible to examine this phenomenon by powder X-ray diffractometry. By the means of this method, eleven samples of chert artifacts and raw materials of chert were studied in this thesis. In addition to crystallinity, the phase composition was studied. The thesis examines the possibility of application the X-ray diffractometry to determine the provenance of chert artifacts on the basis of their different crystallinity. The determination of crystallite size was performed using the Rietveld method, Scherrer equation and Williamson-Hall plots. Comparable results were gained. This approach appears to be successfully applicable for distinguishing between cherts with a large difference in their geological age.

Abstract:

Rekryštalizácia, vyvolaná najčastejšie pribúdajúcim vekom silicitov, tektonickým pôsobením a tlakom, spôsobuje zvyšovanie kryštalinity kremeňa. Tento jav je možné skúmať pomocou práškovej rtg-difraktometrie, ktorá bola v tejto práci použitá pre štúdium jedenástich vzoriek silicitových artefaktov a surovín. Okrem kryštalinity bolo študované aj fázové zloženie. Práca overuje možnosť aplikácie rtg-difrakčnej analýzy pre určovanie proveniencie silicitových artefaktov na základe rozdielnej kryštalinity. Stanovovanie veľkosti kryštalitov prebehlo pomocou Rietveldovej metódy, Scherrerovej rovnice a Williamson-Hallových grafov. Získané výsledky boli porovnateľné. Ako najvhodnejšie sa ukazuje použitie týchto metód pre rozlíšenie silicitov, medzi ktorými je veľký rozdiel v ich geologickom veku.

Keywords

silicit, kremeň, optická mikroskopia, rtg-difrakcia, kryštalinita, Rietveldova metóda, Scherrerova rovnica, Williamson, Hallov graf, chert, quartz, optical microscopy, x-ray diffraction, crystallinity, Rietveld method, Scherrer equation, Williamson-Hall plot

Language used: Slovak

Date on which the thesis was submitted / produced: 15. 5. 2017

Thesis defence

• Date of defence: 13. 6. 2017
• Supervisor: Mgr. Dalibor Všianský, Ph.D.

Masaryk University

Faculty of Science

Bachelor programme / field:
Geology / Applied and Environmental Geology