Bc. Csaba Morvay

Bakalářská práce

Hloubkové profilování chemického složení tenkých vrstev kombinací rtg reflexe a rtg fluorescence

Chemical composition depth profiling of thin films using x-ray reflectometry and fluorescence
Anotace:
V této práci provedeme hloubkové profilování chemického složení několika tenkých vrstev současným měřením rentgenové reflexe a rentgenové fluorescence. Práce zahrnuje stručný popis různých metod používaných pro analýzu materiálů a podrobnější popis totální reflexní rentgenové fluorescence (TXRF). Práca obsahuje také popis experimentálního zařízení a postupu. Porovnáním experimentálních výsledků s teoretickými …více
Abstract:
In this thesis, we will conduct depth profiling of the chemical composition of several thin layers by simultaneous measurement of X-ray reflectivity and X-ray fluorescence. The thesis includes a brief description of various methods used for material analysis and a more detailed description of total-reflection X-ray fluorescence (TXRF). The thesis also contains a description of the experimental setup …více
 
 
Jazyk práce: angličtina
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 14. 5. 2024

Obhajoba závěrečné práce

  • Obhajoba proběhla 24. 6. 2024
  • Vedoucí: doc. Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.
  • Oponent: doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.

Citační záznam

Plný text práce

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta