Bc. Tomáš MARTÍNEK

Master's thesis

Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie\nl{}

Projection of Structures of Electronic Systems Using Scanning Microwave Microscopy\nl{}
Anotácia:
Tato diplomová práce se zabývá zobrazovacími metodami mikroskopie se skenující sondou a skenovacím systémem Agilent 5420 SPM/AFM od společnosti Agilent Technologies. Možnosti tohoto systému jsou zanalyzovány a demonstrovány na několika praktických aplikacích.
Abstract:
This diploma thesis deal with imaging methods of Scanning Probe Microscopy and scanning system Agilent 5420 SPM/AFM from Agilent Technologies. Possibilities of this system are analyzed and demonstrated by several practical applications.
 

Kľúčové slová

Mikroskopie atomárních sil skenovací mikrovlnná mikroskopie metrologie vizualizace
 
Jazyk práce: Czech
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 29. 5. 2013
Zverejniť od: 29. 5. 2013

Obhajoba závěrečné práce

  • Vedúci: Ing. Milan Navrátil, Ph.D.

Citační záznam

Citovat tuto práci
Jak správně citovat práci

MARTÍNEK, Tomáš. Zobrazování struktur elektronických systémů užitím skenovací mikrovlnné mikroskopie\nl{}. Zlín, 2013. diplomová práce (Ing.). Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně. Fakulta aplikované informatiky

Plný text práce

Právo: Autor si přeje zpřístupnit práci veřejnosti od 29.5.2013

Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:
  • Soubory jsou od 29. 5. 2013 dostupné: autentizovaným zaměstnancům ze stejné školy/fakulty
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Univerzita Tomáše Bati ve Zlíně, Fakulta aplikované informatiky
Plny text prace je k dispozici v elektronicke podobe
https://portal.utb.cz/stag?urlid=prohlizeni-prace-detail&praceIdno=31285 Odkaz na soubor do lokálního úložiště instituce