Analýza silikátových materiálů pomocí XRF

Ing. Josef POSPÍŠIL

Master's thesis

Analysis of silicate materials by XRF

Anotácia:

Byla testována možnost nedestruktivní kvantitativní chemické analýzy silikátových ma-teriálů pomocí energodispersní rentgenové fluorescenční spektrometrie na přístroji ElvaX. Rovněž byly ověřovány efekty zeslabování a zesilování rentgenových fluorescenčních spekter majoritních prvků silikátové matrice přítomností dalších prvků s blízkou atomovou hmotností. Ke kalibraci byly využity směsné standardy připravené z následujících chemiká-lií: Al2O3, SiO2, CaSO4, K2CO3, CaCO3, TiO2 a Fe2O3. Kalibrační závislosti byly počítány pomocí obslužného software spektrometru ElvaX metodou vícerozměrové regresní analý-zy. Parametry regresní analýzy byly záměrně voleny tak, aby bylo dosaženo co nejmenšího počtu stupňů volnosti pro jednotlivé analyzované prvky (Al, Si, S, K, Ca, Ti, Fe) a byly tak eliminovány zdánlivé závislosti mezi obsahy jednotlivých prvků. Získané kalibrace byla testována na dvou referenčních vzorcích známého složení a několika reálních vzorcích sili-kátových materiálů.

Abstract:

The possibility of nondestructive quantitative chemical analysis of silicate materials using energodispersive X-ray fluorescence spectrometry with ElvaX spectrometer has been tested. Also the effects of weakening and amplification of X-ray fluorescence spectra of majority silicate matrix elements by presence of other elements have been verified. Stan-dards used for calibration have been prepared by mixing of chemicals as follows: Al2O3, SiO2, CaSO4, K2CO3, CaCO3, TiO2 a Fe2O3. The calibration dependences have been calcu-lated using the service software of the ElvaX spectrometer by the method of multidimen-sional regression analysis. The parameters of the regression analysis have been intention-ally selected so that the minimal possible number of freedom degrees has been attained and the unreal dependences of individual element contents have been eliminated. The achieved calibration has been tested with two referential samples of known composition and several real samples of silicate materials.

Kľúčové slová

rentgenové fluorescenční spektrometrie, analýza silikátů, ElvaX, kalibrace, směsné standardy

Jazyk práce: Czech

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 29. 5. 2007

Identifikátor: 5310

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 19. 6. 2007

Tomas Bata University in Zlín

Faculty of Technology

Master programme / odbor:
Chemistry and Materials Technology / Enviromental Protection Engineering