Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):
rastrovací, elektronový, mikroskopKlíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti
Aplikace metody difrakce zpětně odražených elektronů v materiálovém
(Ondřej Man)2010, Disertační práce, Vysoké učení technické v Brně
• http://theses.cz/id//b4mqfb// | Fyzikální a materiálové inženýrství / | Práce na příbuzné téma
Aplikace metody difrakce zpětně odražených elektronů v materiálovém
(Ondřej Man)2010, Disertační práce, Vysoké učení technické v Brně
• http://theses.cz/id//0w4odt// | Fyzikální a materiálové inženýrství / | Práce na příbuzné téma
Electron vortex beams in the scanning electron microscope
(Tomáš Řiháček)2021, Disertační práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/qylz5/ | Fyzika / Vlnová a částicová optika | Práce na příbuzné téma
Image filtering in scanning electron microscopes
(Michal Floch)2021, Bakalářská práce, Fakulta informatiky / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/hdejx/ | Informatika / | Práce na příbuzné téma
Stochastic Coulomb interactions in a multi-beam scanning electron microscope
(Jan Stopka)2022, Disertační práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/n8nna/ | Fyzika / Vlnová a částicová optika | Práce na příbuzné téma
Image segmentation for EDS coloring in scanning electron microscopy
(Jakub Balga)2023, Diplomová práce, Fakulta informatiky / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/gfeyr/ | Umělá inteligence a zpracování dat / Strojové učení a umělá inteligence | Práce na příbuzné téma