Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

neuniformní vrstvy

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

« 1 2 » (celkem 15 prací)
Mueller matrix ellipsometry of special samples
 (Přemysl Ciompa)

2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/115152 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Time-domain terahertz ellipsometry and polarimetric applications of spintronic emitters
 (Pierre Koleják)

2020, Diplomová práce, Fakulta elektrotechniky a informatiky / VŠB – Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/140363 | Aplikovaná fyzika / | Práce na příbuzné téma

Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Optical and magneto-optical spectroscopic ellipsometry of thin layers and nanostructures
 (Ondřej Vlašín)

2009, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/74725 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

« 1 2 » (celkem 15 prací)