Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):
chiralitaKlíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti
Interpretation of Raman optical activity of nucleic acids
(Věra Schrenková)2021, Diplomová práce, Fakulta chemicko-inženýrská / Vysoká škola chemicko-technologická v Praze
• http://theses.cz/id//xfglkc// | Analytická chemie / | Práce na příbuzné téma
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Modeling and characterization of materials and nanostructures for photovoltaic applications.
(Zuzana Mrázková)2017, Disertační práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/127415 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Mueller matrix microscopic polarimetry of anisotropic samples.
(Adam Dušenka)2024, Diplomová práce, Fakulta materiálově-technologická / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/154053 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Mueller matrix ellipsometry of special samples
(Přemysl Ciompa)2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/115152 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma