Theses on the same topic (having an identical keyword):
ElipsometrieKeywords ordered alphabetically | Keywords ordered by occurrence rate
Spektroskopie SiC monokrystalických substrátů
(Jan Hůla)2023, Bakalářská práce, Fakulta materiálově-technologická / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/151718 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Study of optical anisotropic systems using Mueller matrix spectroscopy.
(Jiří Dědek)2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/115142 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Time-domain terahertz ellipsometry and polarimetric applications of spintronic emitters
(Pierre Koleják)2020, Diplomová práce, Fakulta elektrotechniky a informatiky / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/140363 | Aplikovaná fyzika / | Theses on a related topic
Mueller matrix ellipsometry of special samples
(Přemysl Ciompa)2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/115152 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Optical and magneto-optical spectroscopic ellipsometry of thin layers and nanostructures
(Ondřej Vlašín)2009, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/74725 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic