Theses on the same topic (having an identical keyword):
tenká vrstvaKeywords ordered alphabetically | Keywords ordered by occurrence rate
Určování optických konstant a strukturních parametrů tenkých DLC vrstev s příměsí křemíku a kyslíku
(Pavlína Kührová)2021, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/l6slf/ | Fyzika / Fyzika se zaměřením na vzdělávání | Theses on a related topic
Optical and magneto-optical spectroscopic ellipsometry of thin layers and nanostructures
(Ondřej Vlašín)2009, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/74725 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Deposition of hydrocarbon thin films in plasma and study of their properties
(Miroslav Valtr)2010, Disertační práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/hgzir/ | Fyzika (čtyřleté) / Fyzika plazmatu | Theses on a related topic
Optical characterisation of non-uniform thin films
(David Nečas)2013, Disertační práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/ho7w1/ | Fyzika (čtyřleté) / Vlnová a částicová optika | Theses on a related topic
Elektronové vlastnosti kobaltitů studovaných pomocí elipsometrie
(Miroslav Golian)2020, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/zs2o6/ | Aplikovaná fyzika / Nanotechnologie - aplikovaná fyzika | Theses on a related topic
Deposition and characterization of Y-substituted BIG thin films
(Šárka Kunčická)2016, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/115132 | Nanotechnologie / | Theses on a related topic
Advanced ellipsometric techniques and studies of low-k dielectric films.
(Přemysl Maršík)2009, Disertační práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/nga3b/ | Fyzika (čtyřleté) / Fyzika pevných látek | Theses on a related topic