Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

mikroskopická, polarimetrie

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

« 1 2 » (celkem 14 prací)
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.

Mueller matrix ellipsometry of special samples
 (Přemysl Ciompa)

2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/115152 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
 (Šimon BRÄUER)

2017, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI

• http://theses.cz/id//szm8wr// | Fyzika / Optika a optoelektronika | Práce na příbuzné téma

Muellerova polarimetrie rozhraní dvou izotropních prostředí
 (Pavel MICHAL)

2015, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI

• http://theses.cz/id//9vcliq// | Fyzika / Optika a optoelektronika | Práce na příbuzné téma

« 1 2 » (celkem 14 prací)