Zpět na vyhledávání

Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

elipsometrie

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

Spectroscopic characterization and modelling of transparent conductive layers of fluorine doped tin oxide
 (Jiří Horníček)

2020, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/142225 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
 (Jan Chochol)

2010, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/79019 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
 (Jan Chochol)

2010, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/79019 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
 (Jan Chochol)

2010, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/79019 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma