Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):
elipsometrieKlíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti
Ellipsometric measurement methods in infrared range using phase modulation
(Tomáš Horák)2012, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/94222 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Time-domain terahertz ellipsometry and polarimetric applications of spintronic emitters
(Pierre Koleják)2020, Diplomová práce, Fakulta elektrotechniky a informatiky / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/140363 | Aplikovaná fyzika / | Práce na příbuzné téma
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Mueller matrix ellipsometry of special samples
(Přemysl Ciompa)2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/115152 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Optical and magneto-optical spectroscopic ellipsometry of thin layers and nanostructures
(Ondřej Vlašín)2009, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/74725 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma