Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

elipsometrie muellerovy matice

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Modeling and characterization of materials and nanostructures for photovoltaic applications.
 (Zuzana Mrázková)

2017, Disertační práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/127415 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
 (Jan Chochol)

2010, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/79019 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Study of optical anisotropic systems using Mueller matrix spectroscopy.
 (Jiří Dědek)

2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/115142 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma