Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

muellerovy matice

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Modeling and characterization of materials and nanostructures for photovoltaic applications.
 (Zuzana Mrázková)

2017, Disertační práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/127415 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Modeling of polarization properties of diffracting surfaces
 (Tomáš Kohut)

2017, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/117230 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Coherent light sources with spin-polarized current.
 (Tibor Fördös)

2018, Disertační práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/133144 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Modeling of passive and active optical periodic structures
 (Přemysl Ciompa)

2018, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/130286 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Study of optical anisotropic systems using Mueller matrix spectroscopy.
 (Jiří Dědek)

2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/115142 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Modeling of reflection from textured surfaces using diffraction integrals
 (Tomáš Kohut)

2015, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/109860 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
 (Jan Chochol)

2010, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/79019 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma