Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):
sem analyzaKlíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti
Klasifikácia vrstiev polovodičových čipov v mikroskopu FIB-SEM
(Matej Horniak)2022, Diplomová práce, Fakulta informatiky / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/j8op0/ | Umělá inteligence a zpracování dat / Zpracování a analýza rozsáhlých dat | Práce na příbuzné téma