Zpět na vyhledávání

Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

silicon wafer

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

Strukturní analýza vodivé vrstvy naprášené na křemíkovou desku
 (Jiří Havelka)

2010, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita

https://is.muni.cz/th/ff4x4/ | Fyzika / | Práce na příbuzné téma

Analýza světlo rozptylujících defektů na povrchu leštěné křemíkové desky
 (Olga Spišáková)

2013, Bakalářská práce, Fakulta metalurgie a materiálového inženýrství / VŠB - Technická univerzita Ostrava

http://hdl.handle.net/10084/99280 | Materiálové inženýrství / Technické materiály | Práce na příbuzné téma