Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):

mueller matrix ellipsometry

Klíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti

Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Seznam prací, které mají shodná klíčová slova.

Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
 (Daniel Vala)

2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Mueller matrix ellipsometry of special samples
 (Přemysl Ciompa)

2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/115152 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma

Využití elipsometrie pro měření Muellerových matic k charakterizaci vlastností vybraných polarizačních komponent
 (Šimon BRÄUER)

2017, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI

• http://theses.cz/id//szm8wr// | Fyzika / Optika a optoelektronika | Práce na příbuzné téma

Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
 (Jan Chochol)

2010, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

• http://hdl.handle.net/10084/79019 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma