Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):
specificka opticka stacivostKlíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma