Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):
elipsometrie muellerovy maticeKlíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti
Optical activity measurement using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2020, Diplomová práce, Univerzitní studijní programy / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/141702 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Modeling and characterization of materials and nanostructures for photovoltaic applications.
(Zuzana Mrázková)2017, Disertační práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/127415 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Characterization of special anisotropic structures using Mueller matrix ellipsometry
(Daniel Vala)2018, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/130268 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Mueller matrix microscopic polarimetry of anisotropic samples.
(Adam Dušenka)2024, Diplomová práce, Fakulta materiálově-technologická / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/154053 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Spektroskopie SiC monokrystalických substrátů
(Jan Hůla)2023, Bakalářská práce, Fakulta materiálově-technologická / VŠB – Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/151718 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Depolarizace ve spektroskopické elipsometrii
(Jan Chochol)2010, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/79019 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Study of optical anisotropic systems using Mueller matrix spectroscopy.
(Jiří Dědek)2016, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/115142 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma