Práce na stejné téma (mají shodná klíčová slova):
reflectometryKlíčová slova abecedně | Klíčová slova dle četnosti
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
(Tomáš Běhounek)2009, Disertační práce, Vysoké učení technické v Brně
• http://theses.cz/id//odq157// | Aplikace přírodních věd / | Práce na příbuzné téma
Imaging Reflectometry Measuring Thin Films Optical Properties
(Tomáš Běhounek)2009, Disertační práce, Vysoké učení technické v Brně
• http://theses.cz/id//p9sw73// | Aplikace přírodních věd / | Práce na příbuzné téma
Rentgenová reflektometrie organických vrstev
(Marek Havrila)2010, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/hxxcf/ | Fyzika / Biofyzika | Práce na příbuzné téma
Rentgenová reflektometrie organických vrstev
(Pavel Friš)2011, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/nnpmd/ | Fyzika / | Práce na příbuzné téma
Studium tenkých vrstev metodami optické reflektometrie a polarimetrie
(Petr Tomaštík)2013, Bakalářská práce, Univerzitní studijní programy / VŠB - Technická univerzita Ostrava
• http://hdl.handle.net/10084/99980 | Nanotechnologie / | Práce na příbuzné téma
Optická charakteristika tenkých vrstev nitridu křemíku
(Martin Málek)2019, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/vs0g0/ | Fyzika / | Práce na příbuzné téma
Elektronové excitace v topologických izolátorech
(Miloš Hronček)2015, Diplomová práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/zefau/ | Fyzika / Fyzika kondenzovaných látek | Práce na příbuzné téma
Určování optických konstant a tlouštěk tenkých vrstev nitridu křemíku
(Diana Csontosová)2018, Bakalářská práce, Přírodovědecká fakulta / Masarykova univerzita
• https://is.muni.cz/th/pmuyo/ | Fyzika / | Práce na příbuzné téma