Interferometrie v bílém světle s vysokou informační účinností – Bc. Vojtěch SVAK
Bc. Vojtěch SVAK
Diplomová práce
Interferometrie v bílém světle s vysokou informační účinností
White-light interferometry with high information efficiency
Anotace:
Diplomová práce se zabývá možností zvýšení informační účinnosti interferometrie v bílém světle na drsném povrchu, konkrétně metodou undersampling. Undersampling zvyšuje informační účinnost standardní metody tím, že snižuje množství dat, které je potřeba při měření získat. To se děje za cenu vzorkování měřeného signálu se vzorkovacím krokem větším, než jaký je maximální vzorkovací krok požadovaný vzorkovacím …víceAbstract:
One way of increasing the information efficiency of white-light interferometry is to increase the scanning speed. This reduces the amount of raw 2D data acquired during the measurement, thus increasing the information efficiency and reducing the measurement time. But when scanning speed exceeds a certain limit, the correlogram is sampled with sampling distances bigger than the Nyquist limit. The technique …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 4. 8. 2014
Zveřejnit od: 4. 8. 2014
Obhajoba závěrečné práce
- Vedoucí: RNDr. Pavel Pavlíček, Ph.D.
Citační záznam
Jak správně citovat práci
SVAK, Vojtěch. Interferometrie v bílém světle s vysokou informační účinností. Olomouc, 2014. diplomová práce (Mgr.). UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI. Přírodovědecká fakulta
Plný text práce
Právo: Autor si přeje zpřístupnit práci veřejnosti od 4.8.2014
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- Soubory jsou od 4. 8. 2014 dostupné: světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: UNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI, Přírodovědecká fakultaUNIVERZITA PALACKÉHO V OLOMOUCI
Přírodovědecká fakultaMagisterský studijní program / obor:
Fyzika / Aplikovaná fyzika
Práce na příbuzné téma
-
Interferometrie v bílém světle s vysokým stupněm podvzorkování
Erik MIKESKA -
Multifunkční nanočástice v polymerních matricích
Antonín Kasal -
Měření tvaru povrchu předmětů pomocí interferometrie se dvěma vlnovými délkami
Vladimír Kocour -
Interferometrie v bílém světle s vysokým stupněm podvzorkování
Erik MIKESKA
Název
Vložil
Vloženo
Práva