Automatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEW – Jan ZÁRUBA
Jan ZÁRUBA
Bakalářská práce
Automatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEW
Automated measurement of volt-amps characteristics of transistors with LabVIEW
Anotace:
Bakalářská práce se zabývá problematikou automatizovaného měření voltampérových charakteristik tranzistorů. V teoretické části jsou popsány parametry a vlastnostmi tranzistorů a popisuje vývojové prostředí LabVIEW. Pro účely měření byla použita multifunkční měřicí karta NI USB-6008/6009 od společnosti National Instruments. Softwarová část byla zpracována ve vývojovém prostředí LabVIEW. Výsledky práce …víceAbstract:
This undergraduate thesis deals with the issues of automatic measurement of transistor voltamp characteristics. The theoretical part focuses on the basic parameters and qualities of transistors and describes the LabVIEW Development interface. The multi-purpose measuring card NI USB-6008/6009 has been utilized for the purposes of measurement. The software part was processed in the Development Interface …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 6. 6. 2012
Zveřejnit od: 31. 12. 2999
Obhajoba závěrečné práce
- Vedoucí: Ing. Karel Hromadka
Citační záznam
Jak správně citovat práci
ZÁRUBA, Jan. Automatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEW. Plzeň, 2012. bakalářská práce (Bc.). ZÁPADOČESKÁ UNIVERZITA V PLZNI. Fakulta elektrotechnická
Plný text práce
Právo: Autor si nepřeje zpřístupnění práce veřejnosti
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- Soubory jsou nedostupné.
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: ZÁPADOČESKÁ UNIVERZITA V PLZNI, Fakulta elektrotechnickáZÁPADOČESKÁ UNIVERZITA V PLZNI
Fakulta elektrotechnickáBakalářský studijní program / obor:
Elektrotechnika a informatika / Komerční elektrotechnika
Práce na příbuzné téma
-
Software k AD převodníku firmy National instruments
Jan Polišenský -
Analyzátor výkonů pro testování měničů na hardwarové platformě National Instruments cRIO.
Marek Hořínek -
Fyzikální měření se systémem NI myRIO
Pavlína POPELKOVÁ