Jan ZÁRUBA

Bachelor's thesis

Automatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEW

Automated measurement of volt-amps characteristics of transistors with LabVIEW
Abstract:
Bakalářská práce se zabývá problematikou automatizovaného měření voltampérových charakteristik tranzistorů. V teoretické části jsou popsány parametry a vlastnostmi tranzistorů a popisuje vývojové prostředí LabVIEW. Pro účely měření byla použita multifunkční měřicí karta NI USB-6008/6009 od společnosti National Instruments. Softwarová část byla zpracována ve vývojovém prostředí LabVIEW. Výsledky práce …more
Abstract:
This undergraduate thesis deals with the issues of automatic measurement of transistor voltamp characteristics. The theoretical part focuses on the basic parameters and qualities of transistors and describes the LabVIEW Development interface. The multi-purpose measuring card NI USB-6008/6009 has been utilized for the purposes of measurement. The software part was processed in the Development Interface …more
 
 
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 6. 6. 2012
Accessible from:: 31. 12. 2999

Thesis defence

  • Supervisor: Ing. Karel Hromadka

Citation record

The right form of listing the thesis as a source quoted

ZÁRUBA, Jan. Automatizované měření voltampérových charakteristik tranzistorů pomocí LabVIEW. Plzeň, 2012. bakalářská práce (Bc.). ZÁPADOČESKÁ UNIVERZITA V PLZNI. Fakulta elektrotechnická

Full text of thesis

Accessibility: Autor si nepřeje zpřístupnění práce veřejnosti

Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:
  • Soubory jsou nedostupné.
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: ZÁPADOČESKÁ UNIVERZITA V PLZNI, Fakulta elektrotechnická

University of West Bohemia

Fakulty of Electrical Engineering

Bachelor programme / field:
Electrical Engineering and Informatics / Commercial Electrical Engineering