Žíháním vyvolané strukturní změny tenkých vrstev organických polovodičů.

Bc. Zbyněk Fišer

Master's thesis

Thermally induced structural changes in thin films of organic semiconductors.

Anotácia:

Předmětem této práce bylo studium organických polovodičů. Zkoumány byly vzorky tenkých vrstev molekul picenu a difluor-antradithiofenu nanesených na křemíkové substráty metodou depozice organickým molekulárním svazkem. Vzorky byly vyrobeny na univerzitě v Tübingenu (Německo) během stáže. Krystalová struktura vzorků byla studována pomocí rentgenové difrakce. Hlavním výsledkem práce bylo oindexování pozorovaných difrakcí a určení odpovídajících mezirovinných vzdáleností. Z měření při různých teplotách byly určeny koeficienty teplotní roztažnosti v daných směrech. Z výsledků difrakčních experimentů byly určeny anizotropní koeficienty teplotní roztažnosti.

Abstract:

Subject of this thesis was a study of organic semiconductors. Thin film samples of picen and difluor-anthradithiophene deposited on silicon substrates were examined. The samples were produced by organic molecular beam deposition at the University of Tübingen (Germany) during an internship. The crystal structure of the thin films was studied by x-ray diffraction. The main results of the study are indexing of diffraction peaks and determination of corresponding interplanar distances. Thermal expansion coefficients in given directions were determined from measurement at different temperatures. Finally, the anisotropic thermall expansion coefficients for the respective materials were determined from results of in-situ annealing experiments.

Kľúčové slová

organické polovodiče, metoda depozice organickým molekulárním svazkem, tenká vrstva, rentgenová difrakce, rentgenová difrakce při malém úhlu dopadu, krystalová struktura, mřížové parametry, mezirovinná vzdálenost, koeficient teplotní roztažnosti, organic semiconductors, organic molecular beam deposition, thin layer film, x-ray diffraction, grazing incidence x-ray diffraction, crystal structure, lattice parameters, interplanar distance, thermal expansion coefficient

Jazyk práce: Czech

Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 16. 5. 2018

Obhajoba závěrečné práce

• Obhajoba proběhla 11. 6. 2018
• Vedúci: Mgr. Jiří Novák, Ph.D.
• Oponent: Mgr. Ondřej Caha, Ph.D.

Masaryk University

Faculty of Science

Master programme / odbor:
Physics / Condensed Matter Physics