Strukturní vlastnosti epitaxních Ge mikrokrystalů na Si – Bc. Jakub Rozbořil
Bc. Jakub Rozbořil
Master's thesis
Strukturní vlastnosti epitaxních Ge mikrokrystalů na Si
Structural properties of Ge microcrystals on Si
Abstract:
Předložená práce se zabývá studiem struktury epitaxních Ge mikrokrystalů, které se připravují depozicí na Si substrátu obsahujícím pravidelnou síť litograficky vytvořených sloupečků. Krystalová kvalita Ge mikrokrystalů byla studována pomocí rentgenové difrakce metodou mapování reciprokého prostoru. Rozměry a tvary Ge mikrokrystalů byly analyzovány na základě snímků ze skenovacího elektronového mikroskopu …moreAbstract:
This thesis deals with a study of structure of epitaxial Ge microcrystals, which are produced by deposition on Si substrate containing a regular net of lithographically formed pillars. Crystal structure of Ge microcrystals was studied by x-ray diffraction method called reciprocal space mapping. Sizes and shapes of Ge microcrystals were analyzed using scanning electron microscope micrographs. Series …more
Language used: Czech
Date on which the thesis was submitted / produced: 15. 5. 2014
Identifier:
https://is.muni.cz/th/p5o9r/
Thesis defence
- Date of defence: 19. 6. 2014
- Supervisor: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
Citation record
Full text of thesis
Contents of on-line thesis archive
Published in Theses:- světu
Other ways of accessing the text
Institution archiving the thesis and making it accessible: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasaryk University
Faculty of ScienceMaster programme / field:
Physics / Condensed Matter Physics