Strukturní vlastnosti epitaxních Ge mikrokrystalů na Si – Bc. Jakub Rozbořil
Bc. Jakub Rozbořil
Diplomová práce
Strukturní vlastnosti epitaxních Ge mikrokrystalů na Si
Structural properties of Ge microcrystals on Si
Anotace:
Předložená práce se zabývá studiem struktury epitaxních Ge mikrokrystalů, které se připravují depozicí na Si substrátu obsahujícím pravidelnou síť litograficky vytvořených sloupečků. Krystalová kvalita Ge mikrokrystalů byla studována pomocí rentgenové difrakce metodou mapování reciprokého prostoru. Rozměry a tvary Ge mikrokrystalů byly analyzovány na základě snímků ze skenovacího elektronového mikroskopu …víceAbstract:
This thesis deals with a study of structure of epitaxial Ge microcrystals, which are produced by deposition on Si substrate containing a regular net of lithographically formed pillars. Crystal structure of Ge microcrystals was studied by x-ray diffraction method called reciprocal space mapping. Sizes and shapes of Ge microcrystals were analyzed using scanning electron microscope micrographs. Series …více
Jazyk práce: čeština
Datum vytvoření / odevzdání či podání práce: 15. 5. 2014
Identifikátor:
https://is.muni.cz/th/p5o9r/
Obhajoba závěrečné práce
- Obhajoba proběhla 19. 6. 2014
- Vedoucí: Mgr. Mojmír Meduňa, Ph.D.
Plný text práce
Obsah online archivu závěrečné práce
Zveřejněno v Theses:- světu
Jak jinak získat přístup k textu
Instituce archivující a zpřístupňující práci: Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakultaMasarykova univerzita
Přírodovědecká fakultaMagisterský studijní program / obor:
Fyzika / Fyzika kondenzovaných látek